電磁干擾的概念和預(yù)防在中國已經(jīng)逐漸受到重視，由于歐美國家對電磁干擾的要求，加上數(shù)字產(chǎn)品的廣泛使用，對電磁干擾的要求迫在眉睫。
EMI設(shè)計要點(diǎn)：
首先，我們必須在大腦中明確一個概念——在高頻中，自由空間的阻抗是377歐姆，對于一般EMI中的空間輻射，信號通過空間輻射，因為信號電路已經(jīng)達(dá)到與空間阻抗相比的程度，要理解這一點(diǎn)，我們需要做的是降低信號電路的阻抗。
控制信號電路的阻抗的主要方法是縮短信號的長度，減少電路的面積，然后采用合理的端接來控制電路的反射。事實上，控制信號電路的一個簡單方法是處理關(guān)鍵信號（特別是雙面板，因為雙面微帶模型阻抗有150歐姆，與自由空間相當(dāng)，可以提供幾十歐姆阻抗），請注意，因為電纜本身在高頻阻抗，所以使用地平面或電纜多次通過孔到地平面。我的許多設(shè)計都是在使用，以避免時鐘信號的輻射超過標(biāo)準(zhǔn)。
此外，為了避免信號穿過分割區(qū)域，許多工程師將信號分割在地面上，但有時他們忘記了在這些區(qū)域布線，導(dǎo)致信號電路繞過大區(qū)域，實際上增加了布線長度。
對于EMI傳導(dǎo)部分，重點(diǎn)是充分利用旁路電容器和去耦電容器。旁路電容器（提供交流短路線）必須布置在晶片電源管腳和接地線（平面）上。去耦電容器應(yīng)放置在電流需求變化較大的地方，以避免因電線阻抗（電感）而從電源和接地線上耦合干擾。當(dāng)然，磁珠的合理串聯(lián)可以吸收（轉(zhuǎn)換為熱能）。電感器有時也可以用來過濾干擾，但請注意，電感本身也有頻率響應(yīng)范圍，包裝也決定了其頻率響應(yīng)。以上是一些基本的經(jīng)驗，對于EMI設(shè)計，你需要真正了解自己的設(shè)計，需要關(guān)注哪里，問題會是什么現(xiàn)象，什么是替代方案，需要提前整理。
干擾正確的診斷：
事實上，如果我們把EMI視為一種疾病，當(dāng)然，通常的預(yù)防和維護(hù)是非常重要的。一旦有了正確的診斷，我們就可以快速康復(fù)。沒有正確的診斷，我們就找不到疾病的來源。
我們往往事半功倍，拖延時間。因此，在EMI問題上，我們經(jīng)常看到EMI有問題的產(chǎn)品。因為我們找不到EMI問題的關(guān)鍵，我們花了很多時間和很多對策，但我們無法解決，包括專業(yè)的EMI工程師。在過去，當(dāng)談到EMI時，我們經(jīng)常強(qiáng)調(diào)對策方法，甚至視為許多對策的秘密決策或獨(dú)特技巧。然而，沒有正確的診斷，產(chǎn)品中添加了大量的EMI抑制組件，其結(jié)果往往只會使EMI情況更糟。當(dāng)我第一次接觸到產(chǎn)品EMI對策的修改時，我會聽到高級EMI工程師說，如果我刪除了所有的EMI對策，我就可以通過測試。起初，我以為這是個笑話。
現(xiàn)在回想起來，這是一次非常寶貴的經(jīng)歷。然后我聽到許多EMI工程師談?wù)?/span>類似的經(jīng)歷。本文將舉例，讓讀者更好地了解EMI的對策理念。
一般來說，關(guān)于如何解決EMI問題，大多數(shù)都sebycase。當(dāng)然，在對策方面，每個產(chǎn)品的特點(diǎn)和電路板布線都不一樣，所以不可能用幾套方法解決所有EMI問題。但是，長期以來，我們一直想處理EMI問題，做出適當(dāng)的對策。此外，我們還提供專業(yè)EMI工程師的參考方法。在這里，我們整理了一些電磁干擾和對策的經(jīng)驗，希望對讀者有所幫助。
EMI初步診斷步驟：
我們在EMI診斷中提出了一套參考步驟，希望以系統(tǒng)的方式快速發(fā)現(xiàn)EMI的問題。我們還沒有準(zhǔn)備好討論一些理論計算或公式演繹，這將在實踐中解釋。
當(dāng)一個產(chǎn)品不能通過EMI測試時，首先要有一個想法，找出不能通過的問題點(diǎn)。此時，我們不能有主觀的想法。我們應(yīng)該在那些地方采取對策。經(jīng)常有許多經(jīng)驗豐富的EMI工程師。
由于修改了許多相關(guān)產(chǎn)品，他們也非常了解產(chǎn)品可能導(dǎo)致EMI問題的地方，并且習(xí)慣于直接開處方。當(dāng)然，它們通常可能非常有效，但偶爾很難修改。后來，發(fā)現(xiàn)問題的關(guān)鍵是最初認(rèn)為不可能的地方。這種疏忽的原因是它太主觀了。因此，無論我們是否熟悉產(chǎn)品特性，我們都應(yīng)該逐一確認(rèn)，甚至多次確認(rèn)。這是因為EMI問題往往是復(fù)雜的，而不是單一的。因此，反復(fù)確認(rèn)對EMI問題的診斷非常重要。
我們詳細(xì)列出了初步診斷步驟，并解釋了它們的關(guān)鍵點(diǎn)。這些步驟似乎非常普通和簡單。與介紹對策和方法不同，各種理論技巧層出不窮，變化神秘。事實上，許多資深EMI工程師在處理對策時大部分時間都在重復(fù)這些步驟和判斷。作者應(yīng)該再次強(qiáng)調(diào)，解決EMI問題的I問題的關(guān)鍵，才是解決EMI問題的好方法。如果僅僅依靠理論猜測或經(jīng)驗判斷，有時會花費(fèi)更多的時間和精力。
電磁兼容(EMC)整改步驟1:
將桌子轉(zhuǎn)移到待測(EUT)大發(fā)射位置，初步診斷可能的原因，關(guān)閉EUT電源確認(rèn)。
由于EMI測試，EUT必須轉(zhuǎn)動360度，天線從1m變化到4m，以記錄大輻射。同樣，當(dāng)我們發(fā)現(xiàn)我們無法通過測試時，我們首先將天線位置轉(zhuǎn)移到噪聲接收高度，然后將桌子轉(zhuǎn)移到一個不同的角度。此時，我們知道EUT對天線的輻射很強(qiáng)，所以我們可以初步推測可能的原因，如屏蔽不良或靠近輻射源或電線電纜等。
此外，需要注意的是關(guān)閉EUT電源，看看噪音是否存在，以確定噪音確實是由EUT產(chǎn)生的。我曾經(jīng)看到，Monitor的測試一直無法解決某種干擾。因此，它的噪音是由PC而不Monitor引起的。還有一些問題是，在OPENSITE測試中，Monitor發(fā)現(xiàn)某些點(diǎn)無法通過。測試接收儀器的聲音應(yīng)由Monitor產(chǎn)生。因此，關(guān)閉電源發(fā)現(xiàn)噪音仍然存在，因此關(guān)閉EUT電源的步驟是必要的，通常很容易被忽略。
電磁兼容(EMC)整改步驟2:
逐一拆除連接EUT的周圍電纜，查看干擾噪聲是否減少或消失。如果干擾頻率減少或甚至消失，則電纜已成為天線輻射機(jī)板內(nèi)的噪聲。事實上，我們可以用一個非常簡單的模式來表達(dá)仔細(xì)分析導(dǎo)致EMI的關(guān)鍵。
任何EMI的Source都必須有天線才能產(chǎn)生輻射。如果只有單獨(dú)的噪聲源而沒有天線，輻射量很小。如果連接到天線，由于天線效應(yīng)，能量會輻射到空間。因此，除了處理噪聲的（Source）外，EMI對策還重要檢查破壞輻射條件的天線。
在過去，我們經(jīng)常看到，談?wù)?/span>EMI對策離不開屏蔽、濾波和接地。對于接地，一塊電路板通常是固定的，不能再處理了，因為這部分必須在電路板布線時仔細(xì)考慮。如果電路板已經(jīng)完成，此時可變的空間將非常小。一般來說，我們只能找到噪音低的接地，并用較厚的接地線連接，以減少共模（Commonmode）的噪音。
屏蔽所涉及的材料和成本也很高。過濾器的方法是經(jīng)常可見的Bead電感，這通常不是很有效。很多時候，我們沒有解決輻射的天線效應(yīng)。一般來說，噪聲的能量不會因添加一些對策組件而消失，即能量不會減少。我們要做的是如何避免噪聲輻射到空間（輻射測試）或電源（傳導(dǎo)測試）。
在此我們整理了產(chǎn)生輻射常見的幾種情形供讀者參考：
（1）連接到機(jī)器外部的電纜成為輻射天線
由于機(jī)器外部連接的電纜成為天線效應(yīng)，噪聲輻射到空間。此時，噪聲的大小與電纜的長度有關(guān)。由于電纜的天線效應(yīng)大于噪聲半波長時的共振，EMI往往無法通過測試。在解決這個問題之前，我們必須做出一些判斷，否則很容易忽視和浪費(fèi)時間。
(a)噪聲由機(jī)器內(nèi)部電路板或接地產(chǎn)生
這種情況是取下電纜或添加一個可能性來降低或消失噪音。此時，必須做的一步是將電線靠近機(jī)器（無需直接連接），看看噪聲是否存在。如果噪聲沒有上升，則可以確定它是由機(jī)器內(nèi)部產(chǎn)生的。如果電纜靠近，干擾噪聲立即上升，請參考（b）的說明。
(b)噪聲是將機(jī)器內(nèi)部耦合到電纜上，使電纜成為輻射天線
許多測試工程師很容易忽略這一點(diǎn)。正如（a）所述，只要電纜靠近，就可以看到頻譜上的噪聲立即上升，這意味著噪聲不僅僅是在線輻射，而是機(jī)器本身的噪聲能量相當(dāng)大，一旦天線靠近，就會立即與天線相連，輻射出來。在實際測試中，我們發(fā)現(xiàn)許多通信產(chǎn)品都有這種情況，如果只是使用core或bead來處理，這并不能真正解決這個問題。
(2)機(jī)器內(nèi)部的引線，連接線成為輻射天線
由于許多產(chǎn)品中經(jīng)常有一些電線相互連接到工作室，當(dāng)這些電線靠近噪聲源時，它們很容易成為天線，并輻射噪聲。根據(jù)這一點(diǎn)，我們可以在200MHz以下的噪聲中添加一個可以判斷噪聲是否減少，對于200MHz以上的高頻噪聲，我們可以前后移動線的位置，看看噪聲是否會增加或減少。
(3)電路板上的布線成為輻射天線。
由于走線太長或靠近噪聲源而本身被藕合成為發(fā)射天線，此種情形當(dāng)外部電纜都取下，而僅剩電路板時，在頻譜儀上可看見噪聲依然存在，此時可用探棒測量電路板噪聲強(qiáng)的地方，找到輻射的問題加以解決。關(guān)于探測的工具及方法，在之后詳細(xì)說明。
(4)電路板上的部件成為輻射源。
由于使用的IC或CPU本身在運(yùn)行過程中產(chǎn)生很大的輻射，EMI測試無法通過。這種情況經(jīng)過(1)、(2)、(3)的分析后，噪音依然存在。通常的解決辦法是更換類似的組件，看EMI的特性是否會更好。此外，當(dāng)電路板重新布線時，將其放置在影響較小的位置，即附近沒有I/OPort和連接線。當(dāng)然，如果情況允許，用金屬外殼覆蓋整個組件也是一種快速有效的方法。
通過以上分析和介紹，我們可以理解電磁干擾輻射的關(guān)鍵是電線的問題。當(dāng)天線條件適當(dāng)時，很容易產(chǎn)生干擾。此外，電源線往往是天線效應(yīng)的主要原因，在許EMI對策中容易被忽視。
電磁兼容(EMC)整改步驟3:
如果電源線不能移動，可以夾住Core或水平垂直擺動，看噪音是否降低或變化。如果產(chǎn)品有電池設(shè)備，可以取下電源線進(jìn)行判斷，如NotebookPC。
如上述電源線往往成為輻射天線，特別是Desktopc產(chǎn)品，通常超過300MHz的噪聲會從空間連接到電源線，因此有必要判斷產(chǎn)品的電源線是否被感染。由于噪聲頻帶的影響，200MHz以下可以通過加Core（一次多加幾個）來判斷。對于200MHz以上的噪聲，由于Core此時效果不大，可以水平垂直放置電源線，看干擾噪聲是否不同。如果水平和垂直有明顯差異，可以在擺動電源線的同時查看頻譜儀（Spectrum）上的噪聲大小是否發(fā)生變化，從而知道電源線是否受到干擾。
至于如何解決電源線產(chǎn)生的輻射，一般不容易處理，通常先找到降低機(jī)器噪聲的方法，以避免電源線的二次輻射，使用Shielded線一般對輻射影響不大，所以更換不同長度的電源線，有時效果很好。
由此我們可以知道，除了遠(yuǎn)離I/OPort外，還應(yīng)盡量遠(yuǎn)離電源線和Switchingpowersupply板，以免與電源線連接，使輻射和傳導(dǎo)無法通過測試。
電磁兼容(EMC)整改步驟4:
檢查電纜接頭端的接地螺釘是否擰緊，外端接地是否良好。在根據(jù)前三種方法大致發(fā)現(xiàn)問題后，我們必須再做一些檢查，因為通過這些檢查，我們可以通過EMI測試，而無需任何修改。例如，檢查電纜端的螺釘是否鎖緊，有時擰緊松動的螺釘，以增強(qiáng)電纜的屏蔽效果。此外，還可以檢查機(jī)器外部的Connector接地是否良好。如果外殼是金屬的，可以考慮刮掉Conector上的油漆，使其接地效果更好。此外，如果使用Shielded電纜，必須檢查接頭端外覆的金屬綱是否與其鐵蓋緊密。許多糟糕的屏蔽線（RS232）主要是由于線路接頭的外覆屏蔽金屬綱和接頭的接地密封，無法充分達(dá)到屏蔽效果。
各種接頭，如Keyboard和Powersupply，往往會影響干擾噪聲的輻射，因為接頭的插頭與機(jī)器上的插座密封性不好。檢查方法可以拔出接頭，看噪音是否降低。減少意味著兩種書可以，一種是在線輻射干擾，另一種是接頭之間接觸不良。此時插入接頭，用手微搖動接頭端左右，看噪音是否會降低或消失。如果減少，可以用銅箔膠帶將Keyboard或Powersupply的連接器粘貼一圈，以增加其與機(jī)器接頭的密封性。這也是實際測量中容易被忽視的原因。
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